发明名称 プローバ
摘要 【課題】プローブカードとウエハとの平行度を保つことができ、ウエハレベル検査を高精度に行うことができるプローバを提供する。【解決手段】テストヘッド54と、ウエハチャック50と、ウエハチャック50に対向する面に複数のプローブ66を有するプローブカード56と、プローブカード56とテストヘッド54の間に介在して配置され、プローブカード56とテストヘッド54とを電気的に接続するポゴフレーム58と、ウエハチャック50とプローブカード56との間に密閉空間Sを形成するシール部材64と、密閉空間Sを減圧することで、ウエハチャック50をプローブカード56に向かって引き寄せる減圧手段と、テストヘッド54の外縁部の互いに異なる複数の位置をそれぞれ弾性支持する複数の緩衝部と、を備える。【選択図】図5
申请公布号 JP6048614(B1) 申请公布日期 2016.12.21
申请号 JP20160171662 申请日期 2016.09.02
申请人 株式会社東京精密 发明人 田邨 拓郎
分类号 H01L21/66;G01R31/28 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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