一种大孔径微光像增强器成像均匀性测试装置

摘要

本发明提供一种大孔径微光像增强器成像均匀性测试装置，包括测试暗箱、三维调节平台、相机、积分球系统、转盘装置、限位器、大范围照度可变光源。测试暗箱底面设置出光孔、转轴通孔和限位孔，三维调节平台设置于测试暗箱的底面上，相机设置于三维调节平台且在三维调节平台的驱动下在空间内移动，大范围照度可变光源的出光孔与积分器入光孔连接且在光源射出的光线路径上设有两个自紧式可更换光阑和一个可变孔径的弱光靶，转盘装置包括转动轴、转盘和若干直径不同的出光套筒，转动转盘轴驱动转盘旋转使不同出光套筒依次位于积分球系统的出光孔上方且限位器置于相应的限位槽内。

主权项

一种大孔径微光像增强器成像均匀性测试装置，其特征在于，包括测试暗箱(1)、三维调节平台(5)、相机(2)、积分球系统(7)、转盘装置(11)、限位器(10)、大范围照度可变光源(12)；其中测试暗箱(1)底面设置出光孔、转轴通孔和限位孔；三维调节平台(5)设置于测试暗箱(1)的底面上；相机(2)设置于三维调节平台(5)且在三维调节平台(5)的驱动下在空间内移动；积分球系统(7)设置于测试暗箱(1)下侧且积分球系统(7)光线出射孔对应测试暗箱(1)的出光孔；大范围照度可变光源(12)的出光孔与积分器入光孔连接且在光源射出的光线路径上设有两个自紧式可更换光阑和一个可变孔径的弱光靶；转盘装置(11)包括设置若干不同内径出光套筒(11‑1)和若干限位槽的转盘(11‑11)、转盘轴(11‑8)，其中转盘(11‑11)设置于测试暗箱(1)下侧，转盘轴(11‑8)穿过转轴通孔且设置于转盘(11‑11)上；限位器(10)穿过限位孔与限位槽匹配；转动转盘轴(11‑8)驱动转盘(11‑11)旋转使不同出光套筒(11‑1)依次位于积分球系统(7)的出光孔上方且限位器(10)置于相应的限位槽内。