检测图像传感器表面脏污缺陷的方法

摘要

本发明提供了一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法。该检测图像传感器表面脏污缺陷的方法包括以下步骤：步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；步骤S20：开启图像传感器，对图像传感器的表面进行成像操作，并采集图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；步骤S30：根据图像数据判断图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。应用本发明的技术方案可以解决现有技术中应用均匀发光的发光光源进行图像传感器表面脏污缺陷检测容易发生漏检情况的问题。

主权项

一种检测图像传感器表面脏污缺陷的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S10：采用远心平行光源对图像传感器的表面进行照射；步骤S20：开启所述图像传感器，对所述图像传感器的表面进行成像操作，并采集所述图像传感器的表面及形成表面脏污缺陷粒子的图像数据；步骤S30：根据所述图像数据判断所述图像传感器的表面是否存在表面脏污缺陷的检测结果。