发明名称 基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法
摘要 基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法,涉及天线测试。包括以下步骤:1)搭建天线测试系统,待测阵列天线需与发射天线处于同一水平面;2)测试各天线单元,得到各单元原始的相位方向图测试数据;3)利用光程差校正公式对各单元原始的相位方向图测试数据进行光程差校正,得到初次校正的相位方向图;4)利用光程差校正算法得到阵列天线相位总体一致性的均方根误差最小时参数d<sub>0</sub>、Δ及θ<sub>0</sub>的值;5)计算各单元修正参数后的相位方向图及各单元的相位均方根误差。不需要为每个单元天线挪动阵列位置的情况下直接测量多个单元天线的相位方向图。对测量误差具有较好的抑制作用。具有很好的校正性能。
申请公布号 CN106199220A 申请公布日期 2016.12.07
申请号 CN201610553141.5 申请日期 2016.07.14
申请人 厦门大学 发明人 刘颜回;廖海艳;徐开达;张淼;张谅;叶龙芳;刘海;柳清伙
分类号 G01R29/10(2006.01)I;G01R25/00(2006.01)I 主分类号 G01R29/10(2006.01)I
代理机构 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人 马应森
主权项 基于光程差校正的阵列天线相位一致性测量方法,其特征在于包括以下步骤:1)搭建天线测试系统,待测阵列天线需与发射天线处于同一水平面;2)测试各天线单元,得到各单元原始的相位方向图测试数据;3)利用光程差校正公式对各单元原始的相位方向图测试数据进行光程差校正,得到初次校正的相位方向图;4)利用光程差校正算法得到阵列天线相位总体一致性的均方根误差最小时参数d<sub>0</sub>、Δ及θ<sub>0</sub>的值;5)计算各单元修正参数后的相位方向图及各单元的相位均方根误差。
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