| 发明名称 | 存储器测试数据产生电路与方法 | ||
| 摘要 | 一种存储器测试数据产生电路与方法，用来产生多个测试数据。该些测试数据藉一存储器控制器经由多个通道耦接于一存储器以对该存储器进行测试。该存储器测试数据产生电路包含：多个计数器，用来产生多个计数值；以及一数据重复及组合单元，依据该多个计数值、该存储器测试数据产生电路与该存储器控制器之间的位宽度、以及该存储器控制器与该存储器之间的位宽度产生该些测试数据；其中，每一通道的测试数据系周期性的相同数据数列。 | ||
| 申请公布号 | CN106205727A | 申请公布日期 | 2016.12.07 |
| 申请号 | CN201510216617.1 | 申请日期 | 2015.04.30 |
| 申请人 | 晨星半导体股份有限公司 | 发明人 | 张琦昕;林政南;陈忠敬 |
| 分类号 | G11C29/20(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人 | 徐伟 |
| 主权项 | 一种存储器测试数据产生电路，用来产生多个测试数据，该些测试数据藉一存储器控制器经由多个通道耦接于一存储器以对该存储器进行测试，该存储器测试数据产生电路包含：多个计数器，用来产生多个计数值；以及一数据重复及组合单元，依据该多个计数值、该测试数据产生电路与该存储器控制器之间的位宽度、以及该存储器控制器与该存储器之间的位宽度产生该些测试数据；其中，每一通道的测试数据是周期性的相同数据数列。 | ||
| 地址 | 中国台湾新竹县竹北市台元街26号4楼之1 | ||