发明名称 |
ヒューズ素子及びその製造方法 |
摘要 |
リフローにより表面実装でき、かつ電流をより確実に遮断することができる、ヒューズ素子を提供する。基板(2)と、基板(2)上に設けられた導体配線(13)と、導体配線(13)の一部を直接または間接的に覆うように設けられており、導体配線(13)よりも融点が低く、融液となって導体配線(13)を溶解させて溶断部を形成する低融点金属層(20,21)とを備え、低融点金属層(20,21)が純BiもしくはBiを80重量%以上含むBi基合金からなる、ヒューズ素子(1)。 |
申请公布号 |
JPWO2015059955(A1) |
申请公布日期 |
2017.03.09 |
申请号 |
JP20150543727 |
申请日期 |
2014.06.16 |
申请人 |
株式会社村田製作所 |
发明人 |
池田 豊;鳥井 清文;千徳 覚;藤澤 悦子;三原 賢二良 |
分类号 |
H01H85/11;H01H37/76;H01H69/02;H01H85/046 |
主分类号 |
H01H85/11 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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