发明名称 陶瓷元件之制造方法
摘要 本发明系关于,用以保护IC,LSI等半导体元件不受杂讯,脉冲,静电等异常高压影响之陶瓷元件之制造方法,其目的在提供,藉降低元件之阻抗,便能够去除,抑制信号线之高频杂讯之陶瓷零件。为了达成上述目的,本发明系在电极(2)间,至少施加1次,最大值在50kV以下,从初期值至取大值之时间为200微毫秒以下,从上述初期值经最大值再回到初期值之时间在1微秒以下,能量在0.5焦耳以下之脉冲电压。
申请公布号 TW240328 申请公布日期 1995.02.11
申请号 TW082110097 申请日期 1993.11.30
申请人 松下电器产业股份有限公司 发明人 上野严;生越洋一;若祽康男;野井庆一
分类号 H01L21/28 主分类号 H01L21/28
代理机构 代理人 康伟言 台北巿南京东路三段二四八号七楼
主权项
地址 日本