| 发明名称 | 针对导数光谱法的用于使至少一个光源的波长变化的装置和方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及光谱装置，其包括用于接收样本的分析区域(2)；至少一个发光二极管(3)，其布置为向分析区域(2)发射具有在工作波长间隔内的发光强度光谱轮廓的光束(4)；部件(5)，其用于随时间改变由所述二极管(3)在所述二极管的工作波长间隔内发射的发光强度光谱轮廓；检测器(6、8、9)，其布置为在由所述二极管(3)发射的发光强度光谱轮廓随时间变化期间，接收由所述二极管(3)发射并且已经与分析区域(2)相交的光束(4)，并且提供对由所述二极管(3)发射并且由检测器接收的光束的检测信号(A′)，所述检测信号是以取决于表示所述发光二级管的发光强度光谱轮廓的至少一个特征的信号的形式。本申请涉及导数光谱法。 | ||
| 申请公布号 | CN106574870A | 申请公布日期 | 2017.04.19 |
| 申请号 | CN201580042720.7 | 申请日期 | 2015.07.13 |
| 申请人 | 阿奇麦杰科技公司 | 发明人 | 麦杰·尼西利;埃里克·克里斯蒂安·布勒博瑞;亨利·莱翁 |
| 分类号 | G01J3/433(2006.01)I;G01J3/10(2006.01)I | 主分类号 | G01J3/433(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京柏杉松知识产权代理事务所(普通合伙) 11413 | 代理人 | 谢攀;刘继富 |
| 主权项 | 一种光谱装置，包括：·分析区域(2)，其用于接收样本，·至少一个发光二极管(3)，其布置为朝向所述分析区域(2)发射光束(4)，所述光束(4)具有在波长工作范围内的光强度的光谱轮廓，其特征在于，所述装置针对每个发光二极管(3)还包括：·用于使由所述二极管(3)在该二极管的波长工作范围内发射的光强度的光谱轮廓随时间变化的部件(5)，·检测器(6、8、9)，其布置为：·在由所述二极管(3)发射的光强度的光谱轮廓随时间变化期间，接收由所述二极管(3)发射并且已穿过所述分析区域(2)的所述光束(4)，·提供对由所述二极管(3)发射并被所述检测器接收的所述光束的检测信号(A′)，所述检测信号(A′)是以取决于表示所述发光二极管的光强度的光谱轮廓的至少一个特征的信号的形式。 | ||
| 地址 | 法国埃夫里市 | ||