存储设备和用于该存储设备的缺陷扫描的方法

摘要

执行一种缺陷扫描方法以检测存储设备的存储介质中的缺陷部分，存储介质包括多个存储区，多个存储区包括第一存储区和第二存储区。该缺陷扫描方法包括：在存储设备连接到主机前，扫描存储介质的一部分存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括第一存储区，未扫描的存储区包括第二存储区；将逻辑地址映射到第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在存储设备连接到主机后，扫描第二存储区以检测其中的缺陷部分，并将逻辑地址映射到第二存储区的非缺陷部分的物理地址。

主权项

一种用于检测存储设备的存储介质中的缺陷部分的方法，所述存储介质包括多个存储区，所述多个存储区包括第一存储区和第二存储区，所述方法包括：在所述存储设备连接到主机之前，扫描所述存储介质的一部分所述存储区以检测其中的缺陷部分，所扫描的存储区包括所述第一存储区，未扫描的存储区包括所述第二存储区；将逻辑地址映射到所述第一存储区的非缺陷部分的物理地址；在所述存储设备连接到主机之后，扫描所述第二存储区以检测其中的缺陷部分；以及将逻辑地址映射到所述第二存储区的非缺陷部分的物理地址。