一种电路板测试冶具

摘要

本实用新型公开了一种电路板测试冶具，包括盒体，盒体的上方安装有测试平台，测试平台上设有容纳槽，测试平台的一侧安装有挡板，挡板靠近测试平台的一侧安装有导轨，挡板远离盒体的一端设有第一凹槽，第一凹槽的内部安装有第一转轴，第一转轴的外侧套接有推杆，推杆上设有第二凹槽，第二凹槽的内部安装有第二转轴，第二转轴的外侧套接有连接杆，连接杆远离第二转轴的一端设有圆槽，圆槽内部套接有活动接头。本实用新型，改变传统电路板测试时需要拔插插头的连接方式，不需要对插头进行拔插，防止插头损坏，提高了测试效率，减小了测试冶具的损坏率，将传统的拔插插头的连接方式改变为触点接触的方式，提高了测试的效率。

主权项

一种电路板测试冶具，包括盒体（1），其特征在于：所述盒体（1）的上方安装有测试平台（3），所述测试平台（3）上设有容纳槽（4），所述测试平台（3）的一侧安装有挡板（2），所述挡板（2）靠近测试平台（3）的一侧安装有导轨（5），所述挡板（2）远离盒体（1）的一端设有第一凹槽（6），所述第一凹槽（6）的内部安装有第一转轴（7），所述第一转轴（7）的外侧套接有推杆（8），所述推杆（8）上设有第二凹槽（9），所述第二凹槽（9）的内部安装有第二转轴（10），所述第二转轴（10）的外侧套接有连接杆（11），所述连接杆（11）远离第二转轴（10）的一端设有圆槽（12），所述圆槽（12）内部套接有活动接头（13），所述活动接头（13）远离圆槽（12）的一端安装有压板（14），所述压板（14）靠近挡板（2）的一侧安装有滑块（15），且滑块（15）与导轨（5）连接，所述压板（14）上设有螺纹孔（16），所述螺纹孔（16）上安装有测试探针（17），所述测试探针（17）靠近测试平台（3）的一端安装有触点（18），所述测试探针（17）远离测试平台（3）的一端安装有接线柱（19）。