发明名称 基于水平自校准的抛光表面检测方法及其系统
摘要 本发明公开了基于水平自校准的抛光表面检测方法,涉及图像处理领域,包括如下步骤:首先,采集包含目标物体表面的图像,并根据所述原始图像的灰度值,对所得原始图像进行水平校准;然后,根据所述阈值区间Φ<sub>i</sub>,替换原图像像素点的灰度为<img file="DDA0001145038160000011.GIF" wi="187" he="74" />最后,采集图像灰度变化信息,获取像素灰度波动值,若波动值大于设定阈值,则标记所述工件抛光为不合格。此外,本发明还公开基于水平自校准的抛光表面检测系统。本发明无需人工操作,与工业产线易于集成,节约人力成本,表面检测判定速度快且精确,易于实现工业化。
申请公布号 CN106546197A 申请公布日期 2017.03.29
申请号 CN201610963407.3 申请日期 2016.10.28
申请人 重庆工商职业学院 发明人 海狄
分类号 G01B11/30(2006.01)I;G06T7/00(2017.01)I;G06T7/41(2017.01)I 主分类号 G01B11/30(2006.01)I
代理机构 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人 汤东凤
主权项 基于水平自校准的抛光表面检测方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、采集包含目标物体表面的原始图像;步骤S2、根据所述原始图像的灰度值,对所得原始图像进行水平校准;步骤S3、设定I个灰度阈值区间Φ<sub>i</sub>,将经步骤S2处理后图像的各像素点灰度分别替换为各个灰度阈值区间Φ<sub>i</sub>对应的灰度设定值<img file="FDA0001145038130000016.GIF" wi="186" he="74" />其中,所述I为正整数,所述i满足1≤i≤I;步骤S4、采集经步骤S3处理后图像的横向像素灰度上升个数H<sub>up</sub>、横向像素灰度下降个数H<sub>down</sub>;采集经步骤S3处理后图像的纵向像素灰度上升个数Z<sub>up</sub>、纵向像素灰度下降个数Z<sub>down</sub>以及经步骤S3处理后图像像素总个数Sum;所述Sum为正整数;所述H<sub>up</sub>、H<sub>down</sub>、Z<sub>up</sub>、Z<sub>down</sub>为自然数;步骤S5、获取灰度平均波动幅值F,所述<img file="FDA0001145038130000011.GIF" wi="667" he="151" />所述Gray<sub>j</sub>为经步骤S3处理后图像的各像素点灰度值;所述<img file="FDA0001145038130000012.GIF" wi="151" he="87" />为经步骤S3处理后图像的平均灰度值;所述j满足1≤j≤Sum;步骤S6、获取像素灰度波动值E,若E&gt;E<sub>TH</sub>,则发出声光报警;所述<img file="FDA0001145038130000013.GIF" wi="846" he="135" />所述E<sub>TH</sub>取值范围为0.01≤E<sub>TH</sub>≤10;所述E<sub>TH</sub>为像素灰度波动阈值;所述步骤S2包括:步骤S21、将所述原始图像划分为若干区域Ω<sub>k</sub>,获取所述原始图像的全局灰度平均值<img file="FDA0001145038130000014.GIF" wi="124" he="79" />以及各个所述区域Ω<sub>k</sub>的局部灰度平均值<img file="FDA0001145038130000015.GIF" wi="179" he="94" />所述Ω<sub>k</sub>为所述原始图像划分的第k个区域像素集合,所述k为正整数;所述<img file="FDA0001145038130000021.GIF" wi="552" he="151" />所述YSum为所述原始图像的总像素点,所述YSum为正整数,所述l满足1≤l≤YSum;S22、根据所述全局灰度平均值<img file="FDA0001145038130000022.GIF" wi="122" he="77" />和各个所述区域的局部灰度平均值<img file="FDA0001145038130000023.GIF" wi="157" he="87" />比值,对所述原始图像的各个灰度值GYT<sub>l</sub>进行归一化处理,获得水平校准处理后的灰度值GJZ<sub>l</sub>;所述<img file="FDA0001145038130000024.GIF" wi="778" he="278" />
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