发明名称 寿命推定回路およびそれを用いた半導体装置
摘要 【課題】パワー素子の寿命を正確に推定することが可能な寿命推定回路を提供する。【解決手段】パワーモジュールの寿命推定回路3は、パワー素子部1の温度を検出する温度検出器4と、温度検出器4の出力信号Vtに基づいて、パワー素子部1の温度変化の変曲点を検出する変曲点検出部5と、今回検出された変曲点におけるパワー素子部1の温度と前回検出された変曲点におけるパワー素子部1の温度との差の絶対値を求める演算部8と、温度差の絶対値がしきい値温度Tthに到達した回数をカウントするカウント回路9と、カウント回路9のカウント値Cがしきい値回数Cthに到達した場合に、パワー素子部1の寿命が来たことを示す警告信号ALを出力する信号発生部10を備える。【選択図】図1
申请公布号 JP2017058146(A) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 JP20150180744 申请日期 2015.09.14
申请人 三菱電機株式会社 发明人 魚田 紫織;為谷 典孝;井上 貴公;米山 玲
分类号 G01R31/26;G01K7/01 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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