发明名称 Verfahren zum Testen einer Messbrücke, Messbrückenanordnung, Testanordnung zum Testen einer Messbrücke, Verfahren zum Herstellen einer getesteten Messbrückenanordnung und Computerprogramm
摘要 Verfahren (500) zum Testen einer Messbrücke (210; 310) mit vier resistiven Elementen (212–218; 312–318), zumindest einem ersten Versorgungsanschluss (222; 322), einem ersten Messsignalanschluss (232; 332) und einem zweiten Messsignalanschluss (236; 336), mit folgenden Schritten: Bringen der Messbrücke (210; 310) in vier verschiedene Betriebszustände, die unterschiedliche Arbeitspunkte der Messbrücke festlegen, und Erfassen eines jedem Betriebszustand zugeordneten Messwerts; Charakterisieren der vier resistiven Elemente (212–218; 312 –318) der Messbrücke (210; 310) basierend auf den erfassten Messwerten, wobei in einem ersten Betriebszustand die Messbrücke (210; 310) über den zumindest einen Versorgungsanschluss (222; 322) gespeist wird, wobei in einem zweiten Betriebszustand die Messbrücke (210; 310) über den ersten Messsignalanschluss (232; 332) gespeist wird, wobei in einem dritten Betriebszustand die Messbrücke (210; 310) über den zweiten Messsignalanschluss (236; 336) gespeist wird, und wobei in einem vierten Betriebszustand ein Nebenschlusselement (252, 254; 352, 354), das einen parallelen Strompfad zu einem der resistiven Elemente der Messbrücke (210; 310) liefert, aktiviert ist.
申请公布号 DE102007025001(B4) 申请公布日期 2017.03.23
申请号 DE20071025001 申请日期 2007.05.30
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Ausserlechner, Udo, Dr.
分类号 G01R17/00;G01D5/12;G01D18/00 主分类号 G01R17/00
代理机构 代理人
主权项
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