发明名称 |
塩、酸発生剤、レジスト組成物及びレジストパターンの製造方法 |
摘要 |
【課題】良好なCD均一性でレジストパターンを製造できる塩、酸発生剤、レジスト組成物等を提供することを目的とする。【解決手段】式(I)で表される塩、これを含む酸発生剤及びレジスト組成物。[式中、R1及びR2は、それぞれ独立に、水素原子、ヒドロキシ基又は炭化水素基を表す。m及びnは、それぞれ独立に1又は2を表す。Arは、置換基を有していてもよい芳香族炭化水素基又はヘテロ芳香族炭化水素基を表す。A1はヒドロキシ基で置換されてもよい、(1+s)価の脂肪族飽和炭化水素基を表す。R3は、ヒドロキシ基で置換されてもよい脂環式炭化水素基を表し、該脂環式炭化水素基に含まれる水素原子2つがそれぞれ酸素原子に置換され、当該2つの酸素原子がアルカンジイル基と一緒になってフッ素原子を含んでもよいケタール環を形成してもよい。sは、1〜3の整数を表す。]【選択図】なし |
申请公布号 |
JP2017057192(A) |
申请公布日期 |
2017.03.23 |
申请号 |
JP20160163712 |
申请日期 |
2016.08.24 |
申请人 |
住友化学株式会社 |
发明人 |
増山 達郎;市川 幸司 |
分类号 |
C07D327/06;C07C309/10;C07D317/72;C07D321/10;C09K3/00;G03F7/004;G03F7/038;G03F7/039;G03F7/20 |
主分类号 |
C07D327/06 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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