スキャンテスト回路及びスキャンテスト装置

摘要

【課題】ＦＦレジスタの非同期リセット経路を貫通して、シフト動作にてセットした設定を次々とクリアしデータを破壊しないスキャンテスト回路を提供する。【解決手段】通常入力とスキャン入力のいずれかを選択するためのマルチプレクサ１０と、マルチプレクサ１０の出力を受けるセット／リセット可能なフリップフロップ２０と、フリップフロップ２０の出力をラッチイネーブルにより保持するＬＤラッチ回路３０を具備する。【選択図】図１