发明名称 |
有机硅聚合物中硅氢含量的检测方法 |
摘要 |
本发明涉及一种有机硅聚合物中硅氢含量的检测方法,包括如下步骤:(1)配制内标物溶液:将内标物溶于非氘代溶剂中,得内标物溶液;所述内标物为二氧六环或三聚甲醛;(2)待测样品:准确称取内标物溶液和有机硅聚合物,搅拌混合即得待测样品;(3)测定:采用核磁共振仪对所述待测样品进行检测,记录所述内标物的质子峰的峰面积及所述有机硅聚合物的质子峰的峰面积,计算即得。上述有机硅聚合物中残留硅氢含量的检测方法,操作简单实用省时;通过选用对有机硅聚合物溶解性能好的非氘代溶剂,发明了一种检测限低、重复性能好、准确度高的硅氢含量的快速检测方法。 |
申请公布号 |
CN106501296A |
申请公布日期 |
2017.03.15 |
申请号 |
CN201610906862.X |
申请日期 |
2016.10.18 |
申请人 |
广州天赐高新材料股份有限公司;广州天赐有机硅科技有限公司 |
发明人 |
孙伏恩;吴伟;户献雷;张宇;霍梦月;罗海英;秦文;李响 |
分类号 |
G01N24/08(2006.01)I |
主分类号 |
G01N24/08(2006.01)I |
代理机构 |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人 |
郑彤;万志香 |
主权项 |
一种有机硅聚合物中硅氢含量的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)配制内标物溶液将内标物溶于非氘代溶剂中,得内标物溶液;所述内标物为二氧六环或三聚甲醛;(2)待测样品准确称取内标物溶液和有机硅聚合物,搅拌混合即得待测样品;(3)测定采用核磁共振仪对所述待测样品进行检测,记录所述内标物的质子峰的峰面积及所述有机硅聚合物的质子峰的峰面积,按下式计算即得:<img file="FDA0001133309200000011.GIF" wi="742" he="158" />式中A<sub>标</sub>:内标物质子峰的峰面积;A<sub>样</sub>:有机硅聚合物硅质子峰的峰面积;m<sub>标</sub>:内标物溶液的质量,g;m<sub>样</sub>:有机硅聚合物的质量,g;W<sub>标</sub>:内标物溶液的浓度,wt%;X:内标物的质子数与分子量之比。 |
地址 |
510760 广东省广州市黄埔区云埔工业区东诚片康达路8号 |