发明名称 用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法
摘要 本发明提供了用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,其被设计成生长具有高度再现性的半导体单晶。用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法包括向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶。在第III族氮化物半导体单晶的生长中,使用测量装置探测Ga与Na的反应。在坩埚的温度调整在80℃至200℃的第一温度范围内的情况下,Ga与Na反应。在测量装置探测到Ga与Na反应之后,将坩埚的温度升高至第III族氮化物半导体单晶的生长温度。
申请公布号 CN106480492A 申请公布日期 2017.03.08
申请号 CN201610727174.7 申请日期 2016.08.25
申请人 丰田合成株式会社 发明人 守山实希
分类号 C30B9/12(2006.01)I;C30B29/40(2006.01)I 主分类号 C30B9/12(2006.01)I
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人 蔡胜有;苏虹
主权项 一种用于生产第III族氮化物半导体单晶的方法,所述方法包括:向坩埚中添加籽晶基底、Ga和Na,以及生长第III族氮化物半导体单晶,其中,在预定生长温度下在所述第III族氮化物半导体单晶的生长中,在将所述坩埚的温度调节为低于500℃的第一温度范围内的情况下,使Ga与Na反应;以及在Ga与Na的反应之后,将所述坩埚的温度升高至所述第III族氮化物半导体单晶的生长温度。
地址 日本爱知县