发明名称 一种互扰验证中心及互扰验证方法
摘要 本发明涉及测试领域,公开了一种互扰验证中心及互扰验证方法。本发明中,包含以下步骤:A.分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,根据所采集的数据验证频点是否为有影响频点;B.如果确定为有影响频点,则记录该频点的各参数信息,并控制衰减器调整验证场景的参数指标,分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,直至找到频点的互扰临界点,或者确定频点不存在互扰临界点;C.调整干扰源模块的工作频点,重复步骤A至B,直至干扰源模块的所有工作频点遍历完毕;D.调整待验证模块的工作频点,重复步骤A至C,直至待验证模块的所有工作频点均验证完毕。得以方便快捷高效地进行互扰验证。
申请公布号 CN106487464A 申请公布日期 2017.03.08
申请号 CN201510548944.7 申请日期 2015.08.31
申请人 联芯科技有限公司;大唐半导体设计有限公司 发明人 李颖
分类号 H04B17/345(2015.01)I;H04B17/391(2015.01)I 主分类号 H04B17/345(2015.01)I
代理机构 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 代理人 成丽杰
主权项 一种互扰验证方法,其特征在于,包含以下步骤:A.分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,根据所采集的数据验证所述频点是否为有影响频点;B.如果确定为有影响频点,则记录该频点的各参数信息,并控制衰减器调整验证场景的参数指标,分别采集干扰源模块工作与否时,待验证模块工作在一频点的接收性能数据,直至找到所述频点的互扰临界点,或者确定所述频点不存在互扰临界点;C.调整所述干扰源模块的工作频点,重复所述步骤A至B,直至所述干扰源模块的所有工作频点遍历完毕;D.调整所述待验证模块的工作频点,重复所述步骤A至C,直至所述待验证模块的所有工作频点均验证完毕。
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