发明名称 薄膜トランジスタ及びアレイ基板
摘要 【課題】酸化物半導体層を活性層として採用し、スイッチング特性及びオフ動作の安定性の向上を図った薄膜トランジスタを得る。【解決手段】TFTのチャネル領域となる酸化物半導体領域41は、水素含有量が比較的少ないゲート絶縁膜21の第1の絶縁領域上に形成され、ソース電極51及びドレイン電極52と接触する酸化物半導体領域43は、水素含有量が比較的多いゲート絶縁膜23の第2の絶縁領域上に形成される。このため、酸化物半導体領域41のシート抵抗値R1が比較的高く、酸化物半導体領域43のシート抵抗値R3が比較的低く、R1>R3の関係となる。【選択図】図2
申请公布号 JP2017045779(A) 申请公布日期 2017.03.02
申请号 JP20150165463 申请日期 2015.08.25
申请人 三菱電機株式会社 发明人 林 正美
分类号 H01L29/786;G02F1/1368;H01L21/336 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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