| 摘要 |
본 발명은 커넥터, 집 커넥터 또는 IC chip을 테스트하기 위한 테스트 소켓에 관한 것으로서, 도전성 핀; 오목하게 파인 중심부에 상기 도전성 핀이 삽입될 수 있는 제1 관통공을 포함하고, 상기 중심부의 주변에 배치되는 제1 고정 홀을 포함하는 플로팅 블록; 상기 제1 고정 홀을 관통하여 삽입되며 진공에 의하여 외부의 피검사 전자부품을 흡착하기 위한 진공 라인을 포함하며, 상기 도전성 핀이 삽입될 수 있도록 상기 제1 관통공과 상응하는 제2 관통공을 포함하는 소켓 바디; 및 상기 플로팅 블록을 외부로 노출하기 위한 중앙 개방부를 포함하고, 상기 플로팅 블록을 상기 소켓 바디에 안착시키는 커버 블록;을 포함함으로써, 피검사 전자부품을 보다 잘 흡착시킬 수 있다. |
