| 摘要 |
본 발명의 일 양태는 다음 단계들을 포함한 광 빔의 특성화를 위한 방법에 관한 것이다: - 상기 광 빔을, 분리기 광학계로 제 1 서브-빔 및 제 2 서브-빔으로 분리시키는 단계; - 제 1 광학계를 통해 상기 제 1 서브-빔을 전파하고, 제 2 광학계를 통해 상기 제 2 서브-빔을 전파하는 단계 - 상기 제 1 및 제 2 광학계들 각각은 상기 제 1 광학계에서 빠져나가고 "기준 빔"이라 지칭되는 제 1 서브-빔, 및 상기 제 2 광학계에서 빠져나가고 "특성화 빔"이라 지칭되는 제 2 서브-빔이 시간 지연 (τ)만큼 분리되도록 배치됨 -; - 상기 기준 빔 및 상기 특성화 빔이 공간적으로 간섭되고 2-차원 간섭 패턴을 형성하는 방식으로, 재결합기 광학계로 상기 기준 빔 및 상기 특성화 빔을 재결합시키는 단계 - 상기 2-차원 간섭 패턴은 제 1 평면을 따라 연장됨 -; - 상기 2-차원 간섭 패턴의 적어도 일부의 주파수 스펙트럼을 측정 시스템으로 측정하는 단계; - 상기 주파수 스펙트럼의 적어도 하나의 공간 지점의 시간 도메인에서 푸리에 변환을 계산하는 단계 - 상기 시간 도메인에서의 푸리에 변환은 시간 중심 피크 및 제 1 및 제 2 시간 측면 피크들을 가짐 -; - 상기 제 1 및 제 2시간 측면 피크들 중 하나에 대해, 주파수 도메인에서의 푸리에 변환을 계산기로 계산하는 단계; - 스펙트럼 진폭 (A(ω)), 및 공간-스펙트럼 위상 (φ(x,y,ω))을 상기 주파수 도메인에서의 푸리에 변환에 대해, 계산하는 단계. |
