发明名称 半導体装置用ボンディングワイヤ
摘要 【課題】表面にPd被覆層を有するCuボンディングワイヤにおいて、高温高湿環境でのボール接合部の接合信頼性を改善し、車載用デバイスに好適なボンディングワイヤを提供する。【解決手段】Cu合金芯材と、前記Cu合金芯材の表面に形成されたPd被覆層とを有する半導体装置用ボンディングワイヤにおいて、前記ボンディングワイヤがGa、Geから選ばれる1種以上の元素を含み、ワイヤ全体に対する前記元素の濃度が合計で0.011〜1.5質量%であることを特徴とする半導体装置用ボンディングワイヤ。【選択図】なし
申请公布号 JP2017038062(A) 申请公布日期 2017.02.16
申请号 JP20160171185 申请日期 2016.09.01
申请人 日鉄住金マイクロメタル株式会社;新日鉄住金マテリアルズ株式会社 发明人 小田 大造;江藤 基稀;齋藤 和之;榛原 照男;大石 良;山田 隆;宇野 智裕
分类号 H01L21/60 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
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