发明名称 |
一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法 |
摘要 |
本发明提供了一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)计算待测溶液的折射率:针对浓度未知的溶液,在温度与标定温度相同的条件下,将纤芯失配结构浸泡于溶液中,得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度,通过逐渐增加浓度的大小,记录梳状谱移动的长度,根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率:λ=aR+b,其中R为折射率浓度,λ为变化波长,a,b为常数。 |
申请公布号 |
CN106404718A |
申请公布日期 |
2017.02.15 |
申请号 |
CN201610741672.7 |
申请日期 |
2016.08.26 |
申请人 |
北京信息科技大学 |
发明人 |
何巍;祝连庆;娄小平;董明利;李红;姚齐峰;辛璟焘 |
分类号 |
G01N21/45(2006.01)I;G01D5/353(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/45(2006.01)I |
代理机构 |
北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11416 |
代理人 |
顾珊;庞立岩 |
主权项 |
一种利用纤芯失配干涉结构测量折射率的方法,所述方法包括如下步骤:a)搭建纤芯错位熔接干涉结构,所述纤芯错位熔接干涉结构包括依次连接的泵浦源,波分复用器,增益光纤,第一单模光纤,第二单模光纤,第三单模光纤和光谱分析仪;b)对第一单模光纤,第二单模光纤和第三单模光纤进行光纤错位熔接;c)计算待测溶液的折射率:针对浓度未知的溶液,在温度与标定温度相同的条件下,将纤芯失配结构浸泡于溶液中,得到纤芯失配结构对外界折射率条件变化的灵敏度,通过逐渐增加浓度的大小,记录梳状谱移动的长度,得到梳状谱随浓度的变化曲线,选取测量点波长,此时光谱波长曲线发生漂移,根据漂移量通过以下公式可以推断出该溶液的折射率:λ=aR+b,其中R为折射率浓度,λ为变化波长,a,b为常数。 |
地址 |
100085 北京市海淀区清河小营东路12号北京信息科技大学光电学院 |