发明名称 薄膜トランジスタ
摘要 【課題】低電気抵抗率と優れた耐熱性とを有するAl合金をゲート電極やソース・ドレイン電極とした薄膜トランジスタを提供する。【解決手段】基板上に少なくともゲート電極、ゲート絶縁膜、酸化物半導体層、ソース・ドレイン電極、及び前記ソース・ドレイン電極の保護膜をこの順序で有する薄膜トランジスタであって、前記酸化物半導体層がIn、Ga、並びにZn及びSnの少なくとも一方と、Oとを含み、前記ゲート電極及び前記ソース・ドレイン電極の少なくともいずれか一方の電極がNi及びCoからなるA群より選択される少なくとも1の元素と、Cu及びGeからなるB群より選択される少なくとも1の元素と、La、Gd及びNdからなるC群より選択される少なくとも1の元素とを含むAl合金であり、前記A群の前記Al合金に対する総含有率が0.05原子%以上5原子%以下、前記B群の前記Al合金に対する総含有率が0.10原子%以上2原子%以下、かつ前記C群の前記Al合金に対する総含有率が0.10原子%以上1原子%以下であることを特徴とする薄膜トランジスタ。【選択図】なし
申请公布号 JP2017033963(A) 申请公布日期 2017.02.09
申请号 JP20150148987 申请日期 2015.07.28
申请人 株式会社神戸製鋼所;株式会社コベルコ科研 发明人 越智 元隆;後藤 裕史;高木 勝寿
分类号 H01L29/786;C22C21/00;H01L21/28;H01L29/417;H01L29/423;H01L29/49 主分类号 H01L29/786
代理机构 代理人
主权项
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