发明名称 精密光学元件的超声清洗方法
摘要 一种精密光学元件的超声清洗方法,所述工艺依次包括去离子水喷淋、去离子水超声清洗、去离子水喷淋、去离子水漂洗、切水、烘干工艺,所述的去离子水超声清洗是在40KHz‑270KHz中选择多个不同频率的超声清洗3‑5分钟,清洗温度为50‑60°;清洗时超声时间3‑5min,温度为50‑60°。本发明采用多频段超声加温清洗,利用不同频率的超声波所能清洗的最有效颗粒的对应关系,全面去除光学精密元件表面残留的污染物,提高了元件表面的清洁度,增强了光学元件的抗激光损伤等应用能力。
申请公布号 CN106378334A 申请公布日期 2017.02.08
申请号 CN201610963031.6 申请日期 2016.11.04
申请人 中国科学院上海光学精密机械研究所 发明人 王建国;朱美萍;孙建;易葵;邵建达
分类号 B08B3/10(2006.01)I;B08B3/12(2006.01)I;B08B3/02(2006.01)I;B08B3/08(2006.01)I 主分类号 B08B3/10(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 张泽纯;张宁展
主权项 一种精密光学元件的超声清洗方法,该方法依次包括去离子水喷淋、去离子水超声清洗、去离子水喷淋、去离子水漂洗、切水、烘干的步骤,其特征在于所述的去离子水超声清洗是在40KHz‑270KHz中选择多个不同频率的超声清洗3‑5分钟,清洗温度为50‑60°。
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