发明名称 |
精密光学元件的超声清洗方法 |
摘要 |
一种精密光学元件的超声清洗方法,所述工艺依次包括去离子水喷淋、去离子水超声清洗、去离子水喷淋、去离子水漂洗、切水、烘干工艺,所述的去离子水超声清洗是在40KHz‑270KHz中选择多个不同频率的超声清洗3‑5分钟,清洗温度为50‑60°;清洗时超声时间3‑5min,温度为50‑60°。本发明采用多频段超声加温清洗,利用不同频率的超声波所能清洗的最有效颗粒的对应关系,全面去除光学精密元件表面残留的污染物,提高了元件表面的清洁度,增强了光学元件的抗激光损伤等应用能力。 |
申请公布号 |
CN106378334A |
申请公布日期 |
2017.02.08 |
申请号 |
CN201610963031.6 |
申请日期 |
2016.11.04 |
申请人 |
中国科学院上海光学精密机械研究所 |
发明人 |
王建国;朱美萍;孙建;易葵;邵建达 |
分类号 |
B08B3/10(2006.01)I;B08B3/12(2006.01)I;B08B3/02(2006.01)I;B08B3/08(2006.01)I |
主分类号 |
B08B3/10(2006.01)I |
代理机构 |
上海新天专利代理有限公司 31213 |
代理人 |
张泽纯;张宁展 |
主权项 |
一种精密光学元件的超声清洗方法,该方法依次包括去离子水喷淋、去离子水超声清洗、去离子水喷淋、去离子水漂洗、切水、烘干的步骤,其特征在于所述的去离子水超声清洗是在40KHz‑270KHz中选择多个不同频率的超声清洗3‑5分钟,清洗温度为50‑60°。 |
地址 |
201800 上海市嘉定区上海市800-211邮政信箱 |