发明名称 PHOTO-MASKS FOR LITHOGRAPHY
摘要 A photo-mask for use in extreme ultraviolet (EUV) lithography, in which the photo-mask has low coefficient of thermal expansion and high specific stiffness.
申请公布号 EP3127144(A1) 申请公布日期 2017.02.08
申请号 EP20150772966 申请日期 2015.04.01
申请人 Zygo Corporation 发明人 TRICARD, Marc
分类号 H01L21/027 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人
主权项
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