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发明名称
システム分析装置、及び、システム分析方法
摘要
不変関係分析において、異常の検出能力が高い相関モデルを生成する。システム分析装置(100)は、相関関数記憶部(1022)、及び、相関関数抽出部(1023)を含む。相関関数記憶部(1022)は、システムにおけるメトリックのペアの相関関係を表す相関関数の候補を複数記憶する。相関関数抽出部(1023)は、複数の相関関数の候補の中から、相関関数に係るメトリックの異常時の相関破壊の発生しやすさを示す検出感度をもとに、一つの相関関数を、メトリックのペアの相関関数として抽出する。
申请公布号
JPWO2014132612(A1)
申请公布日期
2017.02.02
申请号
JP20150502762
申请日期
2014.02.24
申请人
日本電気株式会社
发明人
棗田 昌尚
分类号
G06F11/34
主分类号
G06F11/34
代理机构
代理人
主权项
地址
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