| 发明名称 | 液晶显示器的老化测试方法及液晶显示器 | ||
| 摘要 | 本发明公开一种液晶显示器的老化测试方法，包括：时序控制器的老化测试模块侦测到老化测试信号后，发送第一指令信号给时序控制器的时序控制模块；及所述时序控制模块依据所述第一指令信号输出显示信号至液晶显示面板，用于使所述液晶显示面板实现点反转驱动方式。本发明所述液晶显示器的老化测试方法的不良拦检率高。本发明还公开一种液晶显示器。 | ||
| 申请公布号 | CN106373513A | 申请公布日期 | 2017.02.01 |
| 申请号 | CN201611030140.9 | 申请日期 | 2016.11.15 |
| 申请人 | 武汉华星光电技术有限公司 | 发明人 | 彭钟;沈轩 |
| 分类号 | G09G3/00(2006.01)I | 主分类号 | G09G3/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人 | 郝传鑫;熊永强 |
| 主权项 | 一种液晶显示器的老化测试方法，其特征在于，包括：时序控制器的老化测试模块侦测到老化测试信号后，发送第一指令信号给时序控制器的时序控制模块；及所述时序控制模块依据所述第一指令信号输出显示信号至液晶显示面板，用于使所述液晶显示面板实现点反转驱动方式。 | ||
| 地址 | 430070 湖北省武汉市武汉东湖开发区高新大道666号生物城C5栋 | ||