发明名称 計測装置、および物品製造方法
摘要 【課題】計測時間の点で有利な計測装置を提供する。【解決手段】計測装置は、光パターンを対象物に投影する投影部1と、光パターンを投影された対象物を撮像して画像データを出力する撮像部2と、画像データに基づいて対象物の距離の計測値を得る処理部3と、を有する。当該処理部は、前記計測値の信頼度を予測するための第1情報と該信頼度との関係を示す第2情報に基づいて、光パターンの空間周波数を特定する。【選択図】図1
申请公布号 JP2017015545(A) 申请公布日期 2017.01.19
申请号 JP20150132149 申请日期 2015.06.30
申请人 キヤノン株式会社 发明人 長谷川 沙織
分类号 G01C3/06;G01B11/25 主分类号 G01C3/06
代理机构 代理人
主权项
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