試料をイオン化するための質量分析プローブおよびシステム

摘要

本発明は一般に、試料をイオン化するための質量分析プローブおよびシステムに関する。ある特定の実施形態では、本発明は、基材を含む質量分析プローブであって、基材の一部が材料で被覆されており、材料の一部が基材から突出する、質量分析プローブを提供する。本発明は、高電圧源を必要とすることなくイオンを生成するように構成された低電圧質量分析プローブを提供する。本発明の態様は、基材であって、基材の一部が材料で被覆されており、材料の一部が基材から突出する、基材を用いて達成される。一般に、これらの突起部は、ナノスケールであり、いずれの特定の理論または作用機序によっても限定されるものではないが、電極として作用する。