| 发明名称 | 比特失效检测方法 | ||
| 摘要 | 本发明揭示了一种比特失效检测方法。该方法包括：提供一参考电流及一边界系数，将待测比特的电流跟参考电流与边界系数的乘积作比较，若所述待测比特的电流大于参考电流与边界系数的乘积，则所述比特判定为失效；其中，所述边界系数大于等于1。本方法能够提高对异常比特的检测效果，从而提高产品性能。 | ||
| 申请公布号 | CN103839589B | 申请公布日期 | 2017.01.18 |
| 申请号 | CN201410098678.8 | 申请日期 | 2014.03.17 |
| 申请人 | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 | 发明人 | 钱亮;孔蔚然;贾敏 |
| 分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 郑玮 |
| 主权项 | 一种比特失效检测方法，所述比特为弱擦除比特，且具有写入干扰现象，其特征在于，包括：提供一参考电流及一边界系数，将待测比特的电流跟参考电流与边界系数的乘积作比较，若所述待测比特的电流大于参考电流与边界系数的乘积，则所述比特判定为失效；其中，所述边界系数大于等于1，所述参考电流通过结合闪存中处于正态分布区间为(‑3σ，3σ)的比特的电流而得。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江高科技园区祖冲之路1399号 | ||