发明名称 | 混合集成电路失效率获取方法与系统 | ||
摘要 | 本发明提供一种混合集成电路失效率获取方法与系统,分析混合集成电路包括的元器件种类以及各类元器件数量,获取各类元器件对应的激活能值与失效百分比,以失效百分比作为权重系数,进行加权计算,获取混合集成电路的激活能,计算混合集成电路失效率。整个过程不需要复杂实施过程,基于失效百分比进行加权计算,获取混合集成电路的激活能,最终准确计算混合集成电路失效率。 | ||
申请公布号 | CN106326609A | 申请公布日期 | 2017.01.11 |
申请号 | CN201610975248.9 | 申请日期 | 2016.11.07 |
申请人 | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 | 发明人 | 章晓文;何小琦;周振威;肖庆中 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人 | 冯右明 |
主权项 | 一种混合集成电路失效率获取方法,其特征在于,包括步骤:分析混合集成电路包括的元器件种类以及各类元器件数量;获取各类元器件对应的激活能值与失效百分比;以所述失效百分比作为权重系数,根据所述元器件种类、各类元器件数量以及所述各类元器件对应的激活能值与失效百分比进行加权计算,获取所述混合集成电路的激活能;根据所述混合集成电路的激活能,计算所述混合集成电路失效率。 | ||
地址 | 510610 广东省广州市天河区东莞庄路110号 |