| 摘要 |
Test-Verfahren, welches die Schritte aufweist: (a) aufeinanderfolgendes Aussenden mehrerer Test-Pulse durch ein Halbleiter-Bauelement (5a); (b) Vergleichen von in Reaktion auf die Test-Pulse jeweils erzeugten, reflektierten Pulsen (S) mit für jeden Test-Puls jeweils unterschiedlichen Schwellwerten (Vref,1; Vref,2) und bei für jeden Test-Puls jeweils unterschiedlichen Zeitpunkten (t1,1; t2,1) nach Aussenden des jeweiligen Test-Pulses. |
