发明名称 测试电视机DRAM系统信号完整性的方法
摘要 本发明公开了一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法,在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中的一项,调整另一项的输出时间,人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系,对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试,若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界,则其可调整的范围最窄,从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数;选取工作情况最为恶劣的一组进行硬件的SI(信号完整性)测试,从而更加科学可靠的保证整个存储器系统的正常运行,节约测试时间,提升产品开发效率。
申请公布号 CN106057247A 申请公布日期 2016.10.26
申请号 CN201610313488.2 申请日期 2016.05.12
申请人 四川长虹电器股份有限公司 发明人 钟宇;曾广智;郑晓丽;汪海林;王沛君
分类号 G11C29/08(2006.01)I 主分类号 G11C29/08(2006.01)I
代理机构 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 代理人 谭德兵
主权项 一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法,其特征在于它包括:步骤一、在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中的一项,调整另一项的输出时间,人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系,对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试,若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界,则其可调整的范围最窄,从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数;步骤二、以步骤一中得到的最为恶劣的数据位组数进行信号完整性测试。
地址 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号