发明名称 | 测试电视机DRAM系统信号完整性的方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法,在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中的一项,调整另一项的输出时间,人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系,对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试,若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界,则其可调整的范围最窄,从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数;选取工作情况最为恶劣的一组进行硬件的SI(信号完整性)测试,从而更加科学可靠的保证整个存储器系统的正常运行,节约测试时间,提升产品开发效率。 | ||
申请公布号 | CN106057247A | 申请公布日期 | 2016.10.26 |
申请号 | CN201610313488.2 | 申请日期 | 2016.05.12 |
申请人 | 四川长虹电器股份有限公司 | 发明人 | 钟宇;曾广智;郑晓丽;汪海林;王沛君 |
分类号 | G11C29/08(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/08(2006.01)I |
代理机构 | 四川省成都市天策商标专利事务所 51213 | 代理人 | 谭德兵 |
主权项 | 一种测试电视机DRAM系统信号完整性的方法,其特征在于它包括:步骤一、在主芯片SOC端固定数据时钟DQS或数据DQ中的一项,调整另一项的输出时间,人为调整数据DQ与数据时钟DQS之间的相位PHASE关系,对DRAM中的每一组数据位进行逐一测试,若某一组相位PHASE在正常工作时已比较临界,则其可调整的范围最窄,从而判别其为实际工作中条件最为恶劣的数据位组数;步骤二、以步骤一中得到的最为恶劣的数据位组数进行信号完整性测试。 | ||
地址 | 621000 四川省绵阳市高新区绵兴东路35号 |