发明名称 | 一种高亮度LED芯片的制备方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种高亮度LED芯片的制备方法,其制备方法包括以下步骤:(1)版图设计时将P‑SiO<sub>2</sub>开孔取消;(2)版图设计时在MESA光罩上加入ITO开孔,其孔小于原ITO开孔,为ITO过腐蚀工艺留余度,保证ITO过腐蚀后其孔大小与原来一致;(3)调整CB层生长工艺及厚度,保证MESA刻蚀后能有效保护P‑GaN不受损;(4)调整CB层湿法腐蚀速率,保证在第三道光刻时被腐蚀干净,最终外观形貌与四道光刻一致。本发明将包含CB层的高亮度芯片工艺缩减一道光刻,且芯片结构不变,PN‑PAD仍部分与GaN接触,保证电性及外观不变的情况下,保持电极的牢固性及可靠性,降低芯片制备成本及提升生产效率。 | ||
申请公布号 | CN106025013A | 申请公布日期 | 2016.10.12 |
申请号 | CN201610605141.5 | 申请日期 | 2016.07.28 |
申请人 | 合肥彩虹蓝光科技有限公司 | 发明人 | 吴永军 |
分类号 | H01L33/00(2010.01)I | 主分类号 | H01L33/00(2010.01)I |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | 一种高亮度LED芯片的制备方法,其特征在于:其LED芯片包括:GaN层,GaN层上设有CB层,CB层上在MESA光罩上加入ITO开孔,GaN层上设有PN‑PAD层和SiO<sub>2</sub>层,其制备方法包括以下步骤:(1)版图设计时将P‑SiO<sub>2</sub>开孔取消;(2)版图设计时在MESA光罩上加入ITO开孔,其孔小于原ITO开孔,为ITO过腐蚀工艺留余度,保证ITO过腐蚀后其孔大小与原来一致;(3)调整CB层生长工艺及厚度,保证MESA刻蚀后能有效保护P‑GaN不受损;(4)调整CB层湿法腐蚀速率,保证在第三道光刻时被腐蚀干净,最终外观形貌与四道光刻一致。 | ||
地址 | 230012 安徽省合肥市新站区工业园内 |