发明名称 一种旋转下压探针机构
摘要 本发明涉及电子测试设备技术领域,尤其涉及一种旋转下压探针机构。一种旋转下压探针机构,包括:旋转机构、定位机构和下压探针机构,所述定位机构分别连接旋转机构和下压探针机构,所述旋转机构至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构上以带动下压探针机构下压至检测点,且所述旋转机构的旋转运行轨迹的最低点由定位机构限制。通过包括旋转块和等高柱的旋转机构和具有等高斜面的下压探针机构的结构,使得所述等高柱与等高斜面的斜坡相配合,以旋转的方式进行测试,有效的防止测试头经常损坏,解决了现有技术经常更换测试头的问题,且测试稳定性好,操作方便,探针寿命长。
申请公布号 CN106019016A 申请公布日期 2016.10.12
申请号 CN201610453402.6 申请日期 2016.06.21
申请人 苏州赛腾精密电子股份有限公司 发明人 孙丰
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01R1/02(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 张海英;林波
主权项 一种旋转下压探针机构,其特征在于,包括:旋转机构(1)、定位机构(2)和下压探针机构(3),所述定位机构(2)分别连接旋转机构(1)和下压探针机构(3),所述旋转机构(1)至少在下压旋转过程中抵压在下压探针机构(3)上以带动下压探针机构(3)下压至检测点,且所述旋转机构(1)的旋转运行轨迹的最低点由定位机构(2)限制。
地址 215168 江苏省苏州市吴中区东吴南路4号