发明名称 VERFAHREN ZUM AUSBILDEN EINER VERBINDUNGSSTRUKTUR FÜR EINE HALBLEITERVORRICHTUNG
摘要 Verfahren zur Halbleiterherstellung, das Folgendes umfasst: Bereitstellen (102) eines Substrats (302), das mehrere Gräben (312) aufweist, die in einer dielektrischen Schicht (304) angeordnet sind, die über dem Substrat (302) ausgebildet ist; Definieren (104) einer Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) über dem Substrat, wobei die Durchkontaktierungs-Struktur Öffnungen (502, 602) aufweist; Ausbilden (106) einer Abstandhalter-Material-Schicht (902) auf der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) und auf einer Seitenwand von mindestens einem der mehreren Gräben (312) nach dem Definieren der Öffnungen der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506); und Ätzen (108) von Durchkontaktierungs-Löchern (1102) in die dielektrische Schicht (304) mittels der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) und der Abstandhalter-Material-Schicht (902) als Maskierungselemente.
申请公布号 DE102014117338(B4) 申请公布日期 2016.10.06
申请号 DE201410117338 申请日期 2014.11.26
申请人 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. 发明人 Wu, Yung-Hsu;Tsai, Cheng Hsiung;Chang, Yu-Sheng;Lee, Chung-Ju;Yen, Yung-Sung;Chen, Chun-Kuang;Bao, Tien-I;Liu, Ru-Gun;Shue, Shau-Lin;Wu, Chia-Tien
分类号 H01L21/768 主分类号 H01L21/768
代理机构 代理人
主权项
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