发明名称 |
VERFAHREN ZUM AUSBILDEN EINER VERBINDUNGSSTRUKTUR FÜR EINE HALBLEITERVORRICHTUNG |
摘要 |
Verfahren zur Halbleiterherstellung, das Folgendes umfasst: Bereitstellen (102) eines Substrats (302), das mehrere Gräben (312) aufweist, die in einer dielektrischen Schicht (304) angeordnet sind, die über dem Substrat (302) ausgebildet ist; Definieren (104) einer Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) über dem Substrat, wobei die Durchkontaktierungs-Struktur Öffnungen (502, 602) aufweist; Ausbilden (106) einer Abstandhalter-Material-Schicht (902) auf der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) und auf einer Seitenwand von mindestens einem der mehreren Gräben (312) nach dem Definieren der Öffnungen der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506); und Ätzen (108) von Durchkontaktierungs-Löchern (1102) in die dielektrische Schicht (304) mittels der Durchkontaktierungs-Struktur (502, 506) und der Abstandhalter-Material-Schicht (902) als Maskierungselemente. |
申请公布号 |
DE102014117338(B4) |
申请公布日期 |
2016.10.06 |
申请号 |
DE201410117338 |
申请日期 |
2014.11.26 |
申请人 |
Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. |
发明人 |
Wu, Yung-Hsu;Tsai, Cheng Hsiung;Chang, Yu-Sheng;Lee, Chung-Ju;Yen, Yung-Sung;Chen, Chun-Kuang;Bao, Tien-I;Liu, Ru-Gun;Shue, Shau-Lin;Wu, Chia-Tien |
分类号 |
H01L21/768 |
主分类号 |
H01L21/768 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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