发明名称 | 一种给定表面二级微纳结构下的液滴接触角求取方法 | ||
摘要 | 一种给定表面二级微纳结构下的液滴接触角计算方法,包括以下步骤:采用微纳米几何测量仪进行测量所给定的二级微纳结构的结构尺寸,测得微纳米结构的边长、间距和高度;采用Young方程、Wenzel方程和CB方程推导中的一般假设,在此假设下,计算微、纳米尺寸下的粗糙度因子与面积分数;根据微米结构下和纳米结构下的浸润状态的不同,将二级微纳结构的浸润状态划分为四种情况,推导所四个给定的表面二级微纳结构的系统自由能计算式并简化计算式。借助Visual Studio2012软件中的C++程序编译模块,运用搜山法计算出不同浸润状态下的系统自由能,找出稳定状态下的界面最小自由能,并得出其对应的接触角。 | ||
申请公布号 | CN105912502A | 申请公布日期 | 2016.08.31 |
申请号 | CN201610269493.8 | 申请日期 | 2016.04.26 |
申请人 | 浙江工业大学 | 发明人 | 董健;龙芝剑;孙笠;金焱立;董鹤 |
分类号 | G06F17/10(2006.01)I;G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/10(2006.01)I |
代理机构 | 杭州天正专利事务所有限公司 33201 | 代理人 | 王兵;黄美娟 |
主权项 | 一种给定表面二级微纳结构下的液滴接触角求取方法,包括以下步骤:(1)采用微纳米几何测量仪进行测量所给定的二级微纳结构的结构尺寸,测得微纳米结构的边长、间距和高度(a<sub>1</sub>,b<sub>1</sub>,h<sub>1</sub>,a<sub>2</sub>,b<sub>2</sub>,h<sub>2</sub>);(2)采用Young方程、Wenzel方程和CB方程推导中的一般假设,在此假设下,计算微、纳米尺寸下的粗糙度因子与面积分数(r<sub>1</sub>,r<sub>2</sub>,f<sub>1</sub>,f<sub>2</sub>);(3)根据微米结构下和纳米结构下的浸润状态的不同,将二级微纳结构的浸润状态划分为四种情况,根据四种不同的液滴稳定状态下的浸润状态,推导所四个给定的表面二级微纳结构的系统自由能计算式并简化计算式;(4)借助Visual Studio2012软件中的C++程序编译模块,运用搜山法计算出不同浸润状态下的系统自由能,找出稳定状态下的界面最小自由能,并得出其对应的接触角。 | ||
地址 | 310014 浙江省杭州市下城区潮王路18号浙江工业大学科技处 |