| 发明名称 | 一种优化OPC验证的方法 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种优化OPC验证的方法，包括：第一步骤：执行版图OPC处理，从而形成版图OPC数据；第二步骤：通过静态随机存储器标注层，使用标准验证规格格式命令，将版图划分为存储单元区域图形以及非存储单元区域图形；第三步骤：利用第一验证规范对所述存储单元区域图形的版图数据进行验证，以得到第一验证结果；第四步骤：利用第二验证规范对所述非存储单元区域图形的版图数据进行验证，以得到第二验证结果。 | ||
| 申请公布号 | CN105892223A | 申请公布日期 | 2016.08.24 |
| 申请号 | CN201610421103.4 | 申请日期 | 2016.06.14 |
| 申请人 | 上海华力微电子有限公司 | 发明人 | 储志浩;何大权;魏芳;朱骏;吕煜坤;张旭升 |
| 分类号 | G03F1/36(2012.01)I | 主分类号 | G03F1/36(2012.01)I |
| 代理机构 | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人 | 智云 |
| 主权项 | 一种优化OPC验证的方法，其特征在于包括：第一步骤：执行版图OPC处理，从而形成OPC版图数据；第二步骤：通过静态随机存储器标注层，使用标准验证规格格式命令，将版图划分为存储单元区域图形以及非存储单元区域图形；第三步骤：利用第一验证规范对所述存储单元区域图形的版图数据进行验证，以得到第一验证结果；第四步骤：利用第二验证规范对所述非存储单元区域图形的版图数据进行验证，以得到第二验证结果。 | ||
| 地址 | 201203 上海市浦东新区张江开发区高斯路568号 | ||