一种光电传感器测试设备及其测试方法

摘要

本发明公开了一种光电传感器测试设备及其测试方法，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，所述机构底座具有斜坡；所述测试轨道沿斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；所述测试暗室位于测试轨道上，测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：所述支撑装置将测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，第一暗室和第二暗室沿测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；所述反射板设置于第一暗室和第二暗室的顶部；所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。本发明具有节能、误差小、测试时间短、效率高等诸多优点。

主权项

一种光电传感器测试设备，其特征在于，包括机构底座、测试轨道和测试暗室，其中：所述机构底座具有斜坡；所述测试轨道沿所述斜坡铺设，使得待测光电传感器能够利用自身重力沿着所述测试轨道的一斜边由上而下滑动；所述测试暗室位于所述测试轨道上，所述测试暗室内设置有支撑装置、反射板和标准光源：所述支撑装置将所述测试暗室分隔为第一暗室和第二暗室，所述第一暗室和第二暗室沿所述测试轨道由上往下依次设置，用于支撑所述反射板和标准光源；所述反射板设置于所述第一暗室和第二暗室的顶部；所述标准光源设置于第一暗室或第二暗室顶部的反射板上。