发明名称 | 一种抗PID的氮化硅减反射膜 | ||
摘要 | 本实用新型公开一种抗PID的氮化硅减反射膜,所述氮化硅减反射膜包括沉积于硅片上的内、外两层氮化硅减反射膜,其中,内层氮化硅减反射膜的折射率为1.8~2.2,外层氮化硅减反射膜的折射率为2.0~2.5。在技术方面,本实用新型设计了双层结构的氮化硅减反射膜,使之具有抗PID作用。采用本实用新型双层氮化硅减反射膜设计的多晶硅太阳电池抗PID性能可达到IEC测试要求。具有抗PID性能的多晶硅太阳电池片产品的量产平均转换效率达到17.39%,成品率高、性能好。且将获得的多晶硅电池产品封装成72片标准组件后进行PID测试,组件功率下降了2.6%,符合产品要求。 | ||
申请公布号 | CN205488150U | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
申请号 | CN201620219216.1 | 申请日期 | 2016.03.21 |
申请人 | 佛山职业技术学院 | 发明人 | 段春艳;班群 |
分类号 | H01L31/0216(2014.01)I | 主分类号 | H01L31/0216(2014.01)I |
代理机构 | 深圳市君胜知识产权代理事务所 44268 | 代理人 | 王永文;刘文求 |
主权项 | 一种抗PID的氮化硅减反射膜,其特征在于,所述氮化硅减反射膜包括沉积于硅片上的内、外两层氮化硅减反射膜,内层氮化硅减反射膜的折射率为1.8~2.2,外层氮化硅减反射膜的折射率为2.0~2.5。 | ||
地址 | 528137 广东省佛山市三水区乐平镇职教路3号 |