发明名称 | 光纤传感器阵列及天线方向图测量装置、测量方法 | ||
摘要 | 本发明公开了一种光纤传感器阵列,属于电磁测量、微波光子学技术领域。本发明光纤传感器阵列包括<i>K</i>级光开关阵列和与第K级光开关的各端口分别连接的一组光纤传感器。通过控制光开关阵列的开关时序并结合相应的延时方案实现了时分复用,可依次获取各光纤传感器在同一时刻的测量数据。本发明还公开了一种天线方向图测量装置、测量方法,利用上述光纤传感器阵列依次测量同一时间各光纤探头处的空间电场强度,进而实现天线瞬时方向图的测量。本发明克服了传统天线方向图测量过程中金属探头带来的电磁干扰,提高了空间分辨率、测量精确度和测量速度。此外,本发明可实现传统测量方法难以实现的天线瞬时方向图测量,使得脉冲雷达方向图的测量成为可能。 | ||
申请公布号 | CN103913645B | 申请公布日期 | 2016.08.17 |
申请号 | CN201410126526.4 | 申请日期 | 2014.03.31 |
申请人 | 南京航空航天大学 | 发明人 | 潘时龙;徐威远;朱丹;张方正;薛敏 |
分类号 | G01R29/10(2006.01)I | 主分类号 | G01R29/10(2006.01)I |
代理机构 | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人 | 杨楠 |
主权项 | 一种光纤传感器阵列,其特征在于,包括K级光开关阵列,K为大于等于1的整数;所述K级光开关阵列的第1级为一个1×n<sub>1</sub>的光开关,第2级为n<sub>1</sub>个1×n<sub>2</sub>的光开关,依此类推,第K级为(n<sub>1</sub>×n<sub>2</sub>×…×n<sub>K‑1</sub>)个1×n<sub>K</sub>的光开关,各级光开关依次通过带有延时线的光纤连接,构成一个1×(n<sub>1</sub>×n<sub>2</sub>×…×n<sub>K</sub>)的K级光开关阵列,其中n<sub>1</sub>、n<sub>2</sub>、…、n<sub>K</sub>均为大于1的整数;所述K级光开关阵列第K级的(n<sub>1</sub>×n<sub>2</sub>×…×n<sub>K</sub>)个端口各自通过带有延时线的光纤与一个光纤传感器连接;其中,与第i级中每一个1×n<sub>i</sub>光开关的n<sub>i</sub>个端口中的第j个端口所连接的延时线的延时长度为(j‑1)×n<sub>i+1</sub>×…×n<sub>K</sub>×T,i=1,2,…,K,j=1,2,…,n<sub>i</sub>,T为预设的时隙宽度,为一定值。 | ||
地址 | 210016 江苏省南京市秦淮区御道街29号 |