发明名称 低噪声传感器及使用低噪声传感器的检验系统
摘要 本发明揭示一种高速检验样本的方法,所述方法包含:将辐射引导且聚焦到样本上;及接收来自所述样本的辐射且将所接收到的辐射引导到图像传感器。所述方法尤其包含使用预定信号驱动所述图像传感器。所述预定信号最小化所述图像传感器的输出信号的安定时间。所述预定信号由用于选择查找值的相位累加器控制。所述驱动可进一步包含加载初始相位值,选择所述相位累加器的最高有效位及将所述查找值转换为模拟信号。在一个实施例中,针对相位时钟的每一循环,可将相位增量添加到所述相位累加器。所述驱动可由定制波形产生器执行。
申请公布号 CN105829873A 申请公布日期 2016.08.03
申请号 CN201480069694.2 申请日期 2014.12.18
申请人 科磊股份有限公司 发明人 戴维·L·布朗;勇-霍·庄;约翰·费尔登
分类号 G01N21/88(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I 主分类号 G01N21/88(2006.01)I
代理机构 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 代理人 张世俊
主权项 一种高速检验样本的方法,所述方法包括:将辐射引导且聚焦于所述样本上;接收来自所述样本的辐射且将所接收到的辐射引导到图像传感器;及使用预定信号驱动所述图像传感器,所述预定信号最小化所述图像传感器的输出信号的安定时间,所述预定信号由相位累加器控制,所述相位累加器用于选择查找值。
地址 美国加利福尼亚州