| 发明名称 | 一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统，其包括主控电路、低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器。该视频处理器通过该模数转换器电性连接该主控电路，该低压CMOS器件电性连接该主控电路。该主控电路提供AD信号和DA信号，由DA信号给系统提供基准电平，并由被测芯片的管脚数据AD获得被测量数据，该主控电路通过被测量数据控制测试卡的每路开关的切换，从而根据不同的测试条件切换对应的开关。本发明可通过恒流源高精度检测开短路特性，并且适用于高速信号的开短路测试，如MIPI、LVDS等高速差分信号。 | ||
| 申请公布号 | CN105823956A | 申请公布日期 | 2016.08.03 |
| 申请号 | CN201610149626.8 | 申请日期 | 2016.03.16 |
| 申请人 | 昆山软龙格自动化技术有限公司 | 发明人 | 钟岳良;夏远洋;林浩 |
| 分类号 | G01R31/02(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/02(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人 | 汤东凤 |
| 主权项 | 一种集成于USB3.0测试卡的IC开短路测试系统，其特征在于：其包括主控电路、低压CMOS器件、视频处理器、模数转换器；该视频处理器通过该模数转换器电性连接该主控电路，该低压CMOS器件电性连接该主控电路；该主控电路提供AD信号和DA信号，由DA信号给系统提供基准电平，并由被测芯片的管脚数据AD获得被测量数据，该主控电路通过被测量数据控制测试卡的每路开关的切换，从而根据不同的测试条件切换对应的开关。 | ||
| 地址 | 215000 江苏省苏州市昆山市玉山镇联邦国际商务花园39号楼59室 | ||