| 摘要 |
【課題】 平面残留応力を求めるためのＸ線回折測定結果から３軸残留応力測定の必要性を判定する。【解決手段】 測定対象物のＸ線回折測定により検出された回折環の形状と、Ｘ線照射箇所の平面における２方向の残留垂直応力σｘ，σｙおよび残留せん断応力τｘｙの仮の値から計算される基準回折環の形状とを比較し、回折環形状の差の度合いである回折環形状差を計算することを、前記仮の値を変化させるごとに実施するとともに、回折環形状差が小さくなる方向に前記仮の値を変化させて、最も小さい回折環形状差を検出する。検出した最も小さい回折環形状差を設定値と比較し、測定対象物の３軸残留応力測定の必要性を判定する。【選択図】図９ |
