发明名称 |
X荧光光谱分析仪 |
摘要 |
本实用新型涉及测量设备领域,提供一种X荧光光谱分析仪,其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于上述真空测量室内的多个固定元素道和与各上述固定元素道分别对应设置的探测器,通过对上述探测器施加电压来进行化学元素的测试,该X荧光光谱分析仪还包括显示和调节施加在上述探测器上的电压的显示调节面板(100)。本实用新型的有益效果在于:使得X荧光光谱分析仪的调试和维修更加容易,且能够提高探测器上的电压的调节精度,使操作人员无需反复进行多次的检测和调节。 |
申请公布号 |
CN205384236U |
申请公布日期 |
2016.07.13 |
申请号 |
CN201521113363.2 |
申请日期 |
2015.12.29 |
申请人 |
北京邦鑫伟业技术开发有限公司 |
发明人 |
高华;余正东 |
分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/223(2006.01)I |
代理机构 |
北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 |
代理人 |
鲁兵 |
主权项 |
一种X荧光光谱分析仪,其包括X射线发生装置、真空测量室、安装于所述真空测量室内的多个固定元素道和与各所述固定元素道分别对应设置的探测器,通过对所述探测器施加电压来进行化学元素的测试,该X荧光光谱分析仪的特征在于:包括显示和调节施加在所述探测器上的电压的显示调节面板。 |
地址 |
102200 北京市昌平区科技园区超前路37号4号楼5层南区 |