发明名称 | 触控测试系统及其触控测试方法 | ||
摘要 | 本发明公开一种触控测试系统及其触控测试方法。该触控测试系统适用于对电容式触控装置进行测试。触控测试系统包括测试治具、至少一个起磁元件、至少一个感磁元件以及驱动单元。测试治具配置于电容式触控装置上,其中测试治具在对应于触控区域的位置上具有至少一个滑槽。起磁元件配置于测试治具上,其中起磁元件依据驱动信号而致能,并据以产生磁力。感磁元件滑动地设置于滑槽内,感应磁力而沿滑槽滑动,以使感测单元据以产生触控测试信息。驱动单元耦接起磁元件与感测单元,提供驱动信号以致能起磁元件,并且接收触控测试信息以依据触控测试信息回报电容式触控装置的测试结果。 | ||
申请公布号 | CN103529314B | 申请公布日期 | 2016.07.06 |
申请号 | CN201210232646.3 | 申请日期 | 2012.07.05 |
申请人 | 瀚宇彩晶股份有限公司 | 发明人 | 黄建翔;陈惠茹 |
分类号 | G01R31/00(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/00(2006.01)I |
代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人 | 陈小雯 |
主权项 | 一种触控测试系统,适用于对至少一电容式触控装置进行测试,其中该电容式触控装置包括电容式触控面板以及感测单元,且该电容式触控面板具有触控区域,该触控测试系统包括:测试治具,配置于该至少一电容式触控装置上,其中该测试治具在对应于该触控区域的位置上具有至少一滑槽;至少一起磁元件,配置于该测试治具上,其中该至少一起磁元件依据一驱动信号而致能,并据以产生一磁力;至少一感磁元件,滑动地设置于该至少一滑槽内,感应该磁力而沿该至少一滑槽滑动,以使该感测单元据以产生一触控测试信息;以及驱动单元,耦接该至少一起磁元件与该感测单元,提供该驱动信号以致能该至少一起磁元件,并且接收该触控测试信息以依据该触控测试信息回报该至少一电容式触控装置的一测试结果。 | ||
地址 | 中国台湾新北市 |