发明名称 一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料及其制备方法
摘要 一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料及其制备方法,涉及晶体硅材料。所述含有钛杂质中间带的晶体硅材料包括硅层和中间带层,所述中间带层位于硅层上表面,中间带层的深度为0.2~1.0μm,注入浓度为6×10<sup>19</sup>-1×10<sup>22</sup>cm<sup>-3</sup>,中间带层的波长范围为1~3μm,红外光的吸收系数超过1×10<sup>4</sup>~1×10<sup>5</sup>cm<sup>-1</sup>,中间带层的少子寿命为硅层材料少子寿命的5~20倍。在硅片表面制备一层钛薄膜;把带有钛薄膜的硅片用激光辐照;把激光辐照后的硅片进行退火处理;将退火后的硅片进行腐蚀,制得含有钛杂质中间带的晶体硅材料。使钛的注入浓度超过Mott转变浓度,可形成杂质中间带。可用来制备高灵敏红外探测器。
申请公布号 CN103334155B 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201310289506.4 申请日期 2013.07.11
申请人 厦门大学 发明人 陈朝;范宝殿;蔡丽晗;陈蓉
分类号 C30B29/06(2006.01)I;H01L31/0288(2006.01)I 主分类号 C30B29/06(2006.01)I
代理机构 厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 代理人 马应森
主权项 一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料,其特征在于包括硅层和中间带层,所述中间带层位于硅层上表面,中间带层的深度为0.2~1.0μm,注入浓度为6×10<sup>19</sup>‑1×10<sup>22</sup>cm<sup>‑3</sup>,中间带层的波长范围为1~3μm,红外光的吸收系数超过1×10<sup>4</sup>cm<sup>‑1</sup>,中间带层的少子寿命为硅层材料少子寿命的5~20倍。
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