发明名称 |
一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料及其制备方法 |
摘要 |
一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料及其制备方法,涉及晶体硅材料。所述含有钛杂质中间带的晶体硅材料包括硅层和中间带层,所述中间带层位于硅层上表面,中间带层的深度为0.2~1.0μm,注入浓度为6×10<sup>19</sup>-1×10<sup>22</sup>cm<sup>-3</sup>,中间带层的波长范围为1~3μm,红外光的吸收系数超过1×10<sup>4</sup>~1×10<sup>5</sup>cm<sup>-1</sup>,中间带层的少子寿命为硅层材料少子寿命的5~20倍。在硅片表面制备一层钛薄膜;把带有钛薄膜的硅片用激光辐照;把激光辐照后的硅片进行退火处理;将退火后的硅片进行腐蚀,制得含有钛杂质中间带的晶体硅材料。使钛的注入浓度超过Mott转变浓度,可形成杂质中间带。可用来制备高灵敏红外探测器。 |
申请公布号 |
CN103334155B |
申请公布日期 |
2016.06.29 |
申请号 |
CN201310289506.4 |
申请日期 |
2013.07.11 |
申请人 |
厦门大学 |
发明人 |
陈朝;范宝殿;蔡丽晗;陈蓉 |
分类号 |
C30B29/06(2006.01)I;H01L31/0288(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/06(2006.01)I |
代理机构 |
厦门南强之路专利事务所(普通合伙) 35200 |
代理人 |
马应森 |
主权项 |
一种含有钛杂质中间带的晶体硅材料,其特征在于包括硅层和中间带层,所述中间带层位于硅层上表面,中间带层的深度为0.2~1.0μm,注入浓度为6×10<sup>19</sup>‑1×10<sup>22</sup>cm<sup>‑3</sup>,中间带层的波长范围为1~3μm,红外光的吸收系数超过1×10<sup>4</sup>cm<sup>‑1</sup>,中间带层的少子寿命为硅层材料少子寿命的5~20倍。 |
地址 |
361005 福建省厦门市思明南路422号 |