发明名称 |
用于使用结构化照明经由单元件检测来分析浑浊介质的方法和设备 |
摘要 |
用于通过下述来获得一个或多个波长下的组织或浑浊介质的光学性质或结构的定性和定量分析的方法和设备:1)两个或更多结构化光条件下的浑浊介质(诸如组织)的表面上的单个空间位置处的检测或2)单个结构化光条件下的表面上的两个或更多空间位置处的检测。 |
申请公布号 |
CN102883658B |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201080061773.0 |
申请日期 |
2010.11.19 |
申请人 |
调节成像公司 |
发明人 |
D.J.库恰 |
分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
主分类号 |
A61B6/00(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
马丽娜;刘春元 |
主权项 |
一种用于在样本的区域内确定浑浊介质的样本的次表面光学性质的设备,包括:源,其用以使样本的区域暴露于具有带有横向维度的空间结构的照明;以及一个或多个单元件光学检测器,其被配置为接收从暴露于具有空间结构的照明的样本的区域内的样本上的一个或多个空间位置处的收集区域发射的光学信号;其中,样本上的所述一个或多个空间位置中的每一个处的收集区域在尺寸上小于暴露于所述照明的样本的区域,具有在大约所述照明中的空间结构的横向维度的数量级的尺寸或维度。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |