发明名称 METHODS OF ANALYZING SAMPLE SURFACES USING A SCANNING PROBE MICROSCOPE AND SCANNING PROBE MICROSCOPES THEREFOR
摘要 Provided are methods for analyzing a surface of a sample using a scanning probe microscope including a cell-attached probe and scanning probe microscopes therefor.
申请公布号 EP3032267(A2) 申请公布日期 2016.06.15
申请号 EP20150198623 申请日期 2015.12.09
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD 发明人 KWON, YOUNGNAM;PARK, SUNGJUN;PAEK, WOONJUNG;KIM, SEONGHEON;AHN, JAEMIN;YUN, DONGJIN
分类号 G01Q60/42;C12N11/06;G01N33/543 主分类号 G01Q60/42
代理机构 代理人
主权项
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